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杭州雷迈科技有限公司
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  • Radiant Multiferroic II铁电材料测试仪

    RadiantMultiferroicII铁电材料测试仪具有独特的频率等级270khz在+/-100V的内置系统,实现对薄膜和块体陶瓷快速而简单的测试。

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  • Radiant Premier II铁电材料测试仪

    美国Radiant公司致力于创新非易失性记忆技术、非线性机电材料、微机电系统和执行器/传感器的表征设备。Radiant开发并发展了第一个铁电测试系统,该系统迅速成为世界范围内表征非线性材料的工业标准。准确性和精度一直是我们的测试设备和铁电薄膜元件背后的驱动力。RadiantPremierII铁电材料测试仪为材料的研究、开发和设备鉴定提供了范围广泛的

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  • Radiant Precision LC II铁电测试仪

    RadiantPrecisionLCII铁电测试仪主要包括由铁电测试部分,高压输出部分,高压保护部分组成。可用于材料铁电性能测试中测试信号的输出和反馈信号的收集,可进行电滞回线测试、疲劳测试、小信号电容测试、PUND测试、印痕测试等铁电性能的检测。

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  • Filmtek 4000EM-DUV薄膜测量仪

    SCIFilmtek4000EM-DUV薄膜测量仪利用新的多角度差分极化测量(MADP)技术与SCIpatented差分功率谱密度(DPDS)技术相结合,提供了一种在工业中具有zui佳分辨率、准确度和可重复性的光学薄膜计量工具。

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  • SCI FilmTek 3000SE光谱型椭偏仪

    SCIFilmTek3000SE光谱型椭偏仪在透明衬底上沉积的薄膜的透射和反射,它非常适合于测量在透明衬底上沉积的非常薄的吸收薄膜的厚度和光学常数。Filmtek3000SE将光纤分光光度计与SCI的专有材料建模软件结合在一起,为同时测量薄膜厚度、折射率和消光系数提供了一个负担得起而又可靠的工具。

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  • SCI Filmtek 3000膜厚测量仪

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  • SCI FillmTek 2000薄膜测厚仪

    SCIFillmTek2000薄膜测厚仪是薄膜计量技术的一大突破。Filmtek2000将光纤光谱仪和革命性的材料建模软件结合在一起,为同时测量薄膜厚度、折射率和消光系数提供了一个负担得起和可靠的工具。

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  • SCI FilmTek 1000反射膜厚测量仪

    SCIFilmTek1000反射膜厚测量仪是一种精确和负担得起的解决方案,用于薄膜厚度和折射率的常规测量。它将光纤分光光谱仪与直观、高性能的材料建模软件相结合,使日常测量任务更加可靠、简单。FilmTek™1000的配置包括一个小的光斑,配备手动或可选的自动XY平台,以适应75-300毫米晶圆尺寸。

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  • Novocontrol concept 40宽频介电阻抗谱仪

    Novocontrolconcept40宽频介电阻抗谱仪不仅是在实验室开发和研究新材料的重要测量手段,并且在生产质量控制和优化上也是强有力的工具。可以应用于化学、物理化学、电化学、电子、电工工程、材料科学、生物学和制药等领域,尤其包括聚合物、树脂、陶瓷、橡胶、玻璃、液晶、石油及悬浮体等材料。

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    Linkam探针冷热台HFS600E-PB4主要为电性及温谱测试而设计。针尖镀金的探针可以连接在热台腔室内部的电极上,针座可以移动,保证针尖可以接触到热台上的任何一个区域。探针压在样品上的力度可以通过弹簧调整。

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