热购彩票

相关文章 Article
    暂时没有信息
联系我们 Contact Us

杭州雷迈科技有限公司
联系人:蒋新浩
手机:13336187598
公司邮箱:info@dymate.com
办公地址:杭州市萧山区萧绍路1128号华蔚大厦11楼

  • Filmtek 4000EM-DUV薄膜测量仪

    SCIFilmtek4000EM-DUV薄膜测量仪利用新的多角度差分极化测量(MADP)技术与SCIpatented差分功率谱密度(DPDS)技术相结合,提供了一种在工业中具有zui佳分辨率、准确度和可重复性的光学薄膜计量工具。

    查看详细介绍
  • SCI FilmTek 3000SE光谱型椭偏仪

    SCIFilmTek3000SE光谱型椭偏仪在透明衬底上沉积的薄膜的透射和反射,它非常适合于测量在透明衬底上沉积的非常薄的吸收薄膜的厚度和光学常数。Filmtek3000SE将光纤分光光度计与SCI的专有材料建模软件结合在一起,为同时测量薄膜厚度、折射率和消光系数提供了一个负担得起而又可靠的工具。

    查看详细介绍
  • SCI Filmtek 3000膜厚测量仪

    SCIFilmtek3000膜厚测量仪在透明衬底上沉积的薄膜的透射和反射。它非常适合于测量在透明衬底上沉积的非常薄的吸收薄膜的厚度和光学常数。

    查看详细介绍
  • SCI FillmTek 2000薄膜测厚仪

    SCIFillmTek2000薄膜测厚仪是薄膜计量技术的一大突破。Filmtek2000将光纤光谱仪和革命性的材料建模软件结合在一起,为同时测量薄膜厚度、折射率和消光系数提供了一个负担得起和可靠的工具。

    查看详细介绍
  • SCI FilmTek 1000反射膜厚测量仪

    SCIFilmTek1000反射膜厚测量仪是一种精确和负担得起的解决方案,用于薄膜厚度和折射率的常规测量。它将光纤分光光谱仪与直观、高性能的材料建模软件相结合,使日常测量任务更加可靠、简单。FilmTek™1000的配置包括一个小的光斑,配备手动或可选的自动XY平台,以适应75-300毫米晶圆尺寸。

    查看详细介绍
  • 薄膜测厚仪

    薄膜测厚仪是薄膜计量技术的一大突破。Filmtek2000将光纤光谱仪和革命性的材料建模软件结合在一起,为同时测量薄膜厚度、折射率和消光系数提供了一个负担得起和可靠的工具。

    查看详细介绍
共 6 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
QQ在线客服
  • 客服在线
友情链接:凤凰娱乐  大赢家彩票网  博乐彩票  58彩票  全民彩票网  皇冠彩票平台  大无限彩票  

免责声明: 本站资料及图片来源互联网文章,本网不承担任何由内容信息所引起的争议和法律责任。所有作品版权归原创作者所有,与本站立场无关,如用户分享不慎侵犯了您的权益,请联系我们告知,我们将做删除处理!